注意事項(xiàng):
在mac軟件的下載安裝中一般會(huì)遇到如下三種報(bào)錯(cuò)情況,現(xiàn)在本站小編來給大家做出解答,還請(qǐng)遇到報(bào)錯(cuò)的仔細(xì)觀看:
1、“...軟件已損壞,無法打開,你應(yīng)該將它移到廢紙簍”
2、“打不開...軟件,因?yàn)樗鼇碜陨矸莶幻鞯拈_發(fā)者”
3、“打不開...軟件,因?yàn)锳pple無法檢查其是否包含惡意軟件”
當(dāng)遇到上述三種情況時(shí),我們應(yīng)該:
1、首先設(shè)置:開啟任何來源
2、大部分軟件設(shè)置開啟任何來源后,即可正常下載安裝;小部分軟件由于ios對(duì)未簽名應(yīng)用權(quán)限的限制,需要通過執(zhí)行命令行代碼來繞過應(yīng)用簽名認(rèn)證。 因此需要:執(zhí)行命令繞過ios的公證Gatekeeper。
3、上述操作如果均無法解決,那就需要:關(guān)閉SIP系統(tǒng)完整性保護(hù)。
ATOMIC for Mac軟件介紹
RAM是由用戶處理的少數(shù)組件之一,由最低投標(biāo)者批量銷售,并且需求量很大,因此許多制造商不會(huì)像應(yīng)該那樣廣泛地測(cè)試模塊.盡管一個(gè)真正不好的內(nèi)存模塊在安裝后會(huì)經(jīng)常出現(xiàn)故障,但部分故障的內(nèi)存模塊不會(huì).這可能會(huì)導(dǎo)致幾小時(shí)的診斷,看起來像是一個(gè)普通問題,實(shí)際上這是不正常的.所以Micromat開發(fā)了ATOMIC這一最先進(jìn)的Macintosh內(nèi)存測(cè)試儀我們?yōu)镸acintosh制作了最廣泛的RAM測(cè)試程序.無論您是一位經(jīng)驗(yàn)豐富的技術(shù)人員,每天在多臺(tái)計(jì)算機(jī)上工作,還是希望排除自己機(jī)器故障的日常用戶,ATOMIC Mac都是為您服務(wù)的。
ATOMIC for Mac軟件功能
SAD MAC?它可能是你的RAM
雖然悲傷的Mac圖標(biāo)已被其他更現(xiàn)代的圖標(biāo)取代,但它仍然是標(biāo)志性的技術(shù)限制。盡管營(yíng)銷方式相反,但Mac中的硬件很容易出現(xiàn)故障。Mac的內(nèi)存尤其如此。RAM模塊 - 尤其是那些可以更換的模塊 - 在安裝或更換時(shí)很容易損壞。突然減速,不可預(yù)測(cè)和不必要的故障以及計(jì)算機(jī)崩潰,每個(gè)都可能指向Mac內(nèi)存的問題。
防止核心恐慌
恐慌你的Mac曾經(jīng)這樣做過嗎?即使一切看起來都很正常,你的Mac也會(huì)突然重啟或凍結(jié)并顯示像這樣的圖形。有時(shí)會(huì)出現(xiàn)損壞的擴(kuò)展,或者您的Mac從網(wǎng)絡(luò)收到了錯(cuò)誤的數(shù)據(jù)包。但通常,這些內(nèi)核恐慌是內(nèi)存不良的結(jié)果。有些數(shù)據(jù)以一種方式進(jìn)入你的RAM,并以不同的方式出現(xiàn) - 等待該數(shù)據(jù)的進(jìn)程不知道該怎么做。如果您已經(jīng)看到內(nèi)核恐慌,您應(yīng)該考慮測(cè)試您的內(nèi)存。
解決內(nèi)存問題
記憶存在問題,我們認(rèn)為它需要一個(gè)專用工具。通過更多控制對(duì)更多內(nèi)存執(zhí)行更多測(cè)試,ATOMIC是適用于Mac的最強(qiáng)大且可自定義的內(nèi)存測(cè)試器。 ATOMIC是一個(gè)專用的內(nèi)存測(cè)試程序,可以通過使用各種內(nèi)存測(cè)試技術(shù)來檢測(cè)內(nèi)存問題。通過以特定方式將信息寫入Mac的RAM,可以在損壞的RAM損壞重要文件之前檢測(cè)到問題。通過使用這些模式更改內(nèi)存中的數(shù)據(jù),可以在發(fā)生之前檢測(cè)到常見錯(cuò)誤。一旦ATOMIC發(fā)現(xiàn)RAM出錯(cuò),您可以在問題導(dǎo)致數(shù)據(jù)丟失之前采取措施替換它。
ATOMIC for Mac軟件特點(diǎn)
卡住地址 :
在第一遍時(shí),此測(cè)試將每個(gè)存儲(chǔ)單元的地址寫入該單元本身.在第二遍時(shí),地址被讀取和驗(yàn)證以確保地址空間唯一性.
棋盤格 :
此測(cè)試進(jìn)行四次.第一個(gè)寫一個(gè)模式(每次運(yùn)行不同).第二遍讀取/驗(yàn)證模式并寫入原始模式的反轉(zhuǎn),重復(fù)其余兩遍.這會(huì)檢查相鄰位的敏感性,其中正在修改的地址以外的地址會(huì)受到影響.
Extended March C:
此測(cè)試使用由六次遍歷內(nèi)存組成的復(fù)雜算法.它在前三次通過內(nèi)存時(shí)向上移動(dòng),寫入和讀取/驗(yàn)證0或1.接下來的兩遍向下移動(dòng),再次讀取/寫入1和0(可選).最后一關(guān)可以往任何一個(gè)方向移動(dòng),證實(shí)最后一次寫入是成功的.該測(cè)試可檢測(cè)地址故障,耦合故障,卡住故障,卡死故障和轉(zhuǎn)換故障.
隨機(jī)值 :
此測(cè)試首先將一系列隨機(jī)數(shù)寫入內(nèi)存.然后,在第二遍中初始模式被驗(yàn)證.用隨機(jī)值進(jìn)行測(cè)試可以幫助找到間歇性問題.這個(gè)測(cè)試也有助于檢查鄰域模式的敏感度,在多次運(yùn)行中它可以幫助識(shí)別溫度敏感度.
實(shí)體位:
此測(cè)試將一個(gè)固定位模式寫入內(nèi)存,例如全1,檢查初始模式,然后進(jìn)行補(bǔ)充切換到全0.并再次檢查,這將檢查所有地址都是可讀和可寫的.
位傳播 :
此測(cè)試通過0字段移動(dòng)101模式,該測(cè)試通過查找預(yù)期為0的1s來檢測(cè)相鄰單元中的變化.
步行者 :
從位模式00000001開始,每個(gè)存儲(chǔ)器單元被寫入并讀取以驗(yàn)證模式.移動(dòng)一個(gè)地址,然后對(duì)每個(gè)位置重復(fù)測(cè)試.該測(cè)試確保每個(gè)位可以保持與其相鄰位相反的值,稱為字內(nèi)耦合故障,它也可以發(fā)現(xiàn)卡住的地址故障.
步行零點(diǎn):
步行者的倒數(shù),11111110的模式是起始模式,并且0通過內(nèi)存移動(dòng),用于檢測(cè)字內(nèi)耦合故障和卡住地址故障.
比特翻轉(zhuǎn):
將交替的1010和1010圖案組合為步行者和零.當(dāng)測(cè)試在內(nèi)存中移動(dòng)時(shí),每一位(1或0)都會(huì)改變?yōu)槠涔ЬS,測(cè)試以確保模式不被破壞.該測(cè)試對(duì)于檢測(cè)字內(nèi)耦合故障和卡住地址故障也很有用.
塊序列:
該測(cè)試類似于步行測(cè)試和零測(cè)試,它通過1或0的字段移動(dòng)一系列詳盡的模式.除了定位字內(nèi)耦合故障外,它還可用于檢測(cè)RAM是否易受鄰域圖案敏感度影響.
ATOMIC for Mac更新日志
添加了Apple Notary Service支持。
修復(fù)了macOS 10.14’Mojave’用戶的暗模式問題。
將Sparkle更新至1.18.1版。
其他小的更新和改進(jìn)。